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專(zhuān)注環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)與生產(chǎn)
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降階積分法同樣能夠求解結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率，設(shè)系統(tǒng)由
個(gè)失效模式組成，對(duì)結(jié)構(gòu)系統(tǒng)按照單模式的情形將坐標(biāo)空間離散為眾多微元體，與單模式不同的是每個(gè)微元體與結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效域的交點(diǎn)處的特征半徑（仍以
表示之）需按下面的方法確定。
其中
為微元體與第
個(gè)失效模式對(duì)應(yīng)的失效邊界交點(diǎn)處的特征半徑。如圖5.2所示。
圖5.2 多模式的降階積分法示意圖
按上面的方法確定每個(gè)微元體與結(jié)構(gòu)系統(tǒng)失效邊界的交點(diǎn)處的特征半徑
，將其代入式或式，進(jìn)而通過(guò)式即可求得結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率。
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