多模式的降階積分法

降階積分法同樣能夠求解結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率，設(shè)系統(tǒng)由個(gè)失效模式組成，對結(jié)構(gòu)系統(tǒng)按照單模式的情形將坐標(biāo)空間離散為眾多微元體，與單模式不同的是每個(gè)微元體與結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效域的交點(diǎn)處的特征半徑（仍以表示之）需按下面的方法確定。

其中為微元體與第個(gè)失效模式對應(yīng)的失效邊界交點(diǎn)處的特征半徑。如圖5.2所示。

圖5.2 多模式的降階積分法示意圖

按上面的方法確定每個(gè)微元體與結(jié)構(gòu)系統(tǒng)失效邊界的交點(diǎn)處的特征半徑，將其代入式或式，進(jìn)而通過式即可求得結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率。